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| >>高低溫試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn) |
| 高低溫試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時間：2012/1/30 |
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高低溫試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2423.1-2008 GB/T2423.2-2008等標(biāo)準(zhǔn)，也可根據(jù)客戶的要求非標(biāo)定做。
GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。
本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用，運(yùn)輸或貯存的能力。
本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。
本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：
—非散熱試驗樣品低溫試驗：
試驗Ab，溫度漸變。
—散熱試驗樣品低溫試驗：
試驗Ad，溫度漸變。
試驗Ae，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。
本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。
GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T2423.2-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版無實質(zhì)性的差異。
本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用，運(yùn)輸或貯存的能力。
本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。
本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：
—非散熱試驗樣品低溫試驗：
試驗Bb，溫度漸變。
—散熱試驗樣品低溫試驗：
試驗Bd，溫度漸變。
試驗Be，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。
本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。 |
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